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瑞士梅特勒-托利多XP/XS系列分析天平/电子天平
时间 :2012/6/18 浏览 :763次 作者: 久兴洲

详细信息
仪器简介:
梅特勒-托利多XP/XS分析天平快速安全的满足所有称量需求。其中,XP分析天平具有全面的质量管理工具(QM),满足质量保证的要求,特别适合于例如制药行业的严格法规环境。而XS分析天平,配合其创新选件,为快速高效的称量过程设立了全新标准。

主要特点:
采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求;
具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen),实现安全、便捷的天平操作;
红外感应器(SmartSens)*,实现无需用手接触的称量操作:开关门、打印、去皮等;
网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确的称量结果;
水平控制系统(LevelControl)*,在天平偏移水平位置时提供警告提示功能;
专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果;
最小称量值(MinWeigh)功能,提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活);
天平校验功能(BalanceCheck)*,自动提示用户使用外部砝码校正天平,确保称量结果始终准确;
显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀;
标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;
符合GxP规范的称量结果输出,获得完整的、可追溯的称量信息;
GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作;

*仅XP天平

技术参数:
XP分析天平:量程120g~520g,可读性0.01mg~0.1mg
XS分析天平:量程120g~220g,可读性0.01mg~0.1mg
应用领域:
梅特勒-托利多XP分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用,同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。而XS分析天平,则是食品化工行业,关注至高称量效率,易于清洁的理想选择。